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DEFECTIVE WORD LINE DETECTION
Manabu Sakai,Toru Miwa
mag（2013）
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24nm CMOS技術による151mm 2 64GB MLC NANDフラッシュメモリ
Koichi Fukuda,Yoshihisa Watanabe,Eiichi Makino, Kôichi Kikuchi, Jumpei Sato,Teruo Takagiwa, Nobutaka Kanagawa, H. Shiga,Naoya Tokiwa, Yoshitaro Shindo,Edahiro Toshiaki, Teiichiro Ogawa,Makoto Iwai,Nagao Osamu,Junji Musha,Takatoshi Minamoto,Yanagidaira Kosuke, Yôiti Suzuki,Dai Nakamura,Hosomura Yoshikazu,Hiromitsu Komai, Furuta Yuka,Mai Muramoto,Rieko Tanaka,Shikata Go,Yuminaka Ayako, Kazuo Sakurai,Manabu Sakai, Dunpin Hong,Mitsuyuki Watanabe, Yoshiaki Kato, Takaki Miwa,Mak Alex,Masaru Nakamichi,Hemink Gertjan,Lee Dana,Higashitani Masaaki, Brian T. Murphy, Bo Liu, Yasushi Matsunaga
International Solid-State Circuits Conference (2011): 198-199
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A 113mm2 32gb 3bit/cell NAND Flash Memory and Recent Technology Trend of NAND Flash Memory : the Format of Technical Report (Subtitle)
T. Futatsuyama,Norihiro Fujita,Naoya Tokiwa, Yoshihiko Shindo,Toshiaki Edahiro, Takeshi Kamei,H. Nasu,Makoto Iwai, Koji Kato, Yasushi Fukuda, Nobutaka Kanagawa,Naofumi Abiko,Masahide Matsumoto,T. Himeno, Toshifumi Hashimoto, Yie-Ching Liu,Hardwell Chivongodze,Manabu Sakai,Hong Ding, Yasutomo Takeuchi,Norifumi Kajimura,Yasuyuki Kajitani, Kiyofumi Sakurai,Kosuke Yanagidaira,Toshihiro Suzuki, Yuko Namiki, Takuya Fujimura, T. Maruyama, T. Watanabe, T. Hara,Shigeo Ohshima
Technical report of IEICE ICD（2009）
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