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论文共 4 篇作者统计合作学者相似作者
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Honggoo Lee,Sangjun Han,Minhyung Hong,Jieun Lee,Dongyoung Lee,Ahlin Choi,Chanha Park,Dohwa Lee,Seongjae Lee,Jungtae Lee,Jeongpyo Lee,DongSub Choi,Sanghuck Jeon,Zephyr Liu,Hao Mei,Tal Marciano,Eitan Hajaj, Lilach Saltoun,Dana Klein,Eran Amit,Anna Golotsvan,Wayne Zhou, Eitan Herzl,Roie Volkovich,John C. Robinson
Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXXIII (2019)
Honggoo Lee,Sangjun Han,Minhyung Hong,Seungyoung Kim,Jieun Lee,Dongyoung Lee,Eungryong Oh,Ahlin Choi,DongSub Choi,Sanghuck Jeon,DoHwa Lee,Jeongpyo Lee,Jungtae Lee,Seongjae Lee,Zephyr Liu, Einat Peled,Eran Amit,Yuval Lamhot, Alexander Svizher,Dana Klein,Anat Marchelli,Roie Volkovich,Tal Yaziv, Aaron Cheng,John C. Robinson
METROLOGY, INSPECTION, AND PROCESS CONTROL FOR MICROLITHOGRAPHY XXXII (2018)
Honggoo Lee,Sangjun Han,Minhyung Hong,Seungyong Kim,Jieun Lee,DongYoung Lee,Eungryong Oh,Ahlin Choi, Hyowon Park, Waley Liang,DongSub Choi, Nakyoon Kim,Jeongpyo Lee,Stilian Pandev,Sanghuck Jeon,John C. Robinson
作者统计
#Papers: 4
#Citation: 9
H-Index: 3
G-Index: 3
Sociability: 4
Diversity: 1
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