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On the Role of Stress Engineering of Surface Passivation in Determining the Device Performance of AlGaN/GaN HEMTs
Mehak A. Mir, A. Thakare,M. A. Munshi, V. Avinash, S. Wani,Z. Khan,R. Chaudhuri, S. Karthik,R. Malik,V. Joshi,M. Shrivastava
2024 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM, IRPS 2024 (2024)
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