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DG03 — Device Reliability Constraints for AI
C. Zambelli,P. Paliwoda,A. Makarov, C. LaRow,Z. Chbili,G. Rzepa, M. Ring,E. Ogawa, Gaadi, Haase, I. Hill
International Integrated Reliability Workshoppp.1-6, (2020)
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Reliability-Aware FinFET Design
M. Toledano-Luque,P. Srinivasan. P. Paliwoda,S. Cimino,Z. Chbili,M. Iqbal Mahmud,A. Gupta,T. Shen,T. Kauerauf,B. Zhu,B. Min,T. Nigam
2019 Electron Devices Technology and Manufacturing Conference (EDTM)pp.218-221, (2019)
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Self-heating measurement methodologies and their assessment on bulk FinFET devices
P. Paliwoda,Z. Chbili,A. Kerber, A. Gondal,D. Misra
2017 IEEE INTERNATIONAL INTEGRATED RELIABILITY WORKSHOP (IIRW)pp.9-12, (2017)
引用3浏览0EIWOS引用
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#Citation: 37

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