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A Novel Data Recovery Technique for 3D TLC NAND Flash Memory Using Intercell Program
Y. L. Chou,W. J. Tsai, G. W. Wu,W. Chang,T. C. Lu, K. C. Chen,C. Y. Lu
2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) (2023)
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A Target-Read Retry Scheme for 3D Charge Trap NAND Flash Memory
Y. L. Chou,C. C. Lu,W. J. Tsai,T. C. Lu, K.C. Chen,C. Y. Lu
2023 International Electron Devices Meeting (IEDM)pp.1-4, (2023)
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