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Demonstration of 1 V Reliable FeRAM Operation: V C Engineering Using Quasi-Chirality of Hf1-x Zr X O2 in a Nanolaminate Structure
Hojung Jang,Alireza Kashir,Tony Schenk, Mostafa Habibi, Martin Schuster,Seungyeol Oh, Stefan Mueeller,Hyunsang Hwang
ACS APPLIED MATERIALS & INTERFACESno. 41 (2024): 55627-55636
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A New Generation of Memory Devices Enabled by Ferroelectric Hafnia and Zirconia
Tony Schenk,Stefan Mueller
2021 IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON APPLICATIONS OF FERROELECTRICS (IEEE ISAF 2021) / INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON INTEGRATED FUNCTIONALITIES (ISIF) / PIEZORESPONSE FORCE MICROSCOPY WORKSHOP (PFM) (2021)
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