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Microelectronics reliability/Microelectronics and reliability (2023): 115225-115225
Microelectronics Reliability (2023): 115251-115251
Microelectronics Reliability (2022): 114626
2021 6th International Conference on Integrated Circuits and Microsystems (ICICM)pp.45-49, (2021)
Dingjun Wang,Tiehu Li
2021 IEEE 4th International Conference on Electronics and Communication Engineering (ICECE)pp.362-367, (2021)
作者统计
#Papers: 7
#Citation: 5
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