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Robust Off-State TDDB Reliability of N-Ldmos
Wen Liu,Dimitris P. Ioannou,Johnatan Kantarovsky,Byoung Min,Tanya Nigam
2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) (2022)
引用1浏览0EIWOS引用
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Optimized LDMOS Offering for Power Management and RF Applications
S. Cimino,J. Singh, J. B. Johnson, W. Zheng,Y. Chen, W. Liu,P. Srinivasan, O. Gonzales,M. Hauser, M. Koskinen,K. Nagahiro, Y. Liu,B. Min,T. Nigam, N. Squib
2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) (2022)
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