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Robust Off-State TDDB Reliability of N-Ldmos.

Wen Liu,Dimitris P. Ioannou,Johnatan Kantarovsky,Byoung Min,Tanya Nigam

2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)（2022）

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关键词
LDMOS,off-state,TDDB,BiCMOS
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