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First Experimental Demonstration of MRAM Data Scrubbing: 80 Mb MRAM with 40 nm junctions for Last Level Cache Applications
H. Wu, V. Katragadda, E. Evarts, E. Edwards,R. Southwick,A. Dutta,G. Lauer, V. Mehta, R. Johnson,O. van der Straten,A. Reznicek, M. Wordeman,M. Rizzolo,R. Patlolla,D. Metzler,C. Yang,D. Edelstein, D. Canaperi,S. Teehan, J.M. Slaughter,D.C. Worledge
2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)pp.2.3.1-2.3.4, (2021)
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