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Study on Negative-Bias Photodegradation Mechanism in IGZO FET with First -Principles Calculation
Tomonori Nakayama,Masahiro Takahashi,Hitoshi Kunitake, Kuo-Chang Huang,Hiroshi Yoshida, Miller Liao,Shou-Zen Chang,Shunpei Yamazaki
Extended Abstracts of the 2021 International Conference on Solid State Devices and Materials (2021)
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