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Reliability Analysis of a Low-Cost CCSDS 123 Hyperspectral Image Compressor
Wesley Grignani,Douglas A. dos Santos,Luigi Dilillo,Douglas R. Melo
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systemspp.1-4, (2024)
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SRAM-based Heavy Ion Beam Flux and LET Dosimetry
Andrea Coronetti,Rubén García-Alía,Luigi Dilillo,Carolina Imianosky, Douglas Almeida Dos Santos,Lucas Matana Luza,Alexandre Bosser,Kacper Bilko,Andreas Waets, Karolina Klimek,Frédéric Saigné
IEEE Transactions on Nuclear Scienceno. 99 (2024): 1-1
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Using HARV-SoC for Reliable Sensing Applications in Radiation Harsh Environments
Andre M. P. Mattos,Douglas A. Santos,Carolina Imianosky,Douglas R. Melo,Luigi Dilillo
2023 9TH INTERNATIONAL WORKSHOP ON ADVANCES IN SENSORS AND INTERFACES, IWASIpp.227-232, (2023)
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