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Analysis of 3row Failure Caused by Vulnerable Data Retention Failure Adjacent to Disconnected BCAT
Jongwon Nam,Youmin Kim, Jinhyeon Han,Sangho Kim, Hyunhee Jo, Seaeun Park, Kanghyuk Lee, Jihoon Kim,Ilwoo Jung,Dongin Lee,Byunghyun Lee, SeGuen Park
International Symposium for Testing and Failure Analysis ISTFA 2024 Conference Proceedings from the 50th International Symposium for Testing and Failure Analysis (2024): 157-160
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Study of Retention Time Variation Due to the Change in Adjacent Wordline Voltage of BCAT DRAM Structure
Dongsuck Kang,Ilwoo Jung, Jinsuob Yoon,Dongin Lee,Hyeongsun Hong,Ilsub Chung
International Symposium for Testing and Failure Analysis ISTFA 2020 Papers Accepted for the Planned 46th International Symposium for Testing and Failure Analysis (2020)
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