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Integrated Test Circuit for Off-State Dynamic Drain Stress Evaluation
J. Hai,F. Cacho,X. Federspiel, T. Garba-Seybou,A. Divay,E. Lauga-Larroze,J. -D. Arnould
2023 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM, IRPS (2023)
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CMOS FD-SOI Technologies Ruggedness for Millimeter Wave Power Amplifier Design
B. Martineau, A. Bossuet,A. Divay,B. Blampey, Y. Morandini
2022 29th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS) (2022)
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Highly Robust and Reliable Power Amplifiers in 22FDX and 45RFSOI Technologies
A. Bossuet,A. Divay,B. Martineau,C. Dehos,B. Blampey, Y. Morandini
ESSDERC 2022 - IEEE 52ND EUROPEAN SOLID-STATE DEVICE RESEARCH CONFERENCE (ESSDERC)pp.332-335, (2022)
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A Highly Rugged 39 GHz 19.3 Dbm Power Amplifier for 5G Applications in 45nm SOI Technology
Alice Bossuet,Baudouin Martineau,Cedric Dehos,Benjamin Blampey,Alexis Divay, Yvan Morandini
2021 16TH EUROPEAN MICROWAVE INTEGRATED CIRCUITS CONFERENCE (EUMIC 2021)pp.80-83, (2021)
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65nm RFSOI Power Amplifier Transistor Ageing at mmW frequencies, 14 GHz and 28 GHz
A. Divay, J. Forest,V Knopik, J. Hai,N. Revil,J. Antonijevic, A. Michard,F. Cacho,E. Vincent,F. Gaillard,X. Garros
2021 IEEE INTERNATIONAL ELECTRON DEVICES MEETING (IEDM)pp.39.3.1-39.3.4, (2021)
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