基本信息
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职业迁徙
个人简介
Yifei Huang is currently working toward the Ph.D. degree with the Institute of Microelectronics of the Chinese Academy of Sciences, Beijing, China.
Her current research interests include the reliability characterization, and physics of failure of wide-bandgap power semiconductor devices.
研究兴趣
论文共 7 篇作者统计合作学者相似作者
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2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)pp.2C.2-1-2C.2-6, (2024)
Yixu Yao,Sen Huang,Qimeng Jiang,Xinhua Wang,Yifei Huang,Yi Pei, Hongtu Qian, Hui Zhang,Fuqiang Guo,Bo Shen,Xinyu Liu
Power Electronic Devices and Components (2024): 100065
IEEE Transactions on Power Electronicsno. 7 (2023): 8977-8989
引用1浏览0EIWOS引用
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2023 35th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD)pp.95-98, (2023)
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2023 35th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD)pp.103-106, (2023)
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2022 IEEE 34th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD) (2022)
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2022 IEEE 34th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD)pp.77-80, (2022)
作者统计
合作学者
合作机构
D-Core
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- 学生
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