谷歌浏览器插件

订阅小程序

在清言上使用

立即登录

学术主页个人账号

我的关注论文收藏浏览历史

Three-dimensional Nanoscale Characterisation of Materials by Atom Probe Tomography

Arun Devaraj,Daniel E. Perea, Jia Liu,Lyle M. Gordon,Ty. J. Prosa,Pritesh Parikh,David R. Diercks,Subhashish Meher,R. Prakash Kolli,Ying Shirley Meng,Suntharampillai Thevuthasan

International Materials Reviews（2017）

引用 137|浏览41

关键词

Atom probe tomography,characterisation,microstructure

AI 理解论文

溯源树

样例

生成溯源树，研究论文发展脉络

Chat Paper

正在生成论文摘要