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论文共 23 篇作者统计合作学者相似作者

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Off-State Characteristics of Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors under Self-Heating Stress
Meng Zhang,Zhendong Jiang,Ching-Ho Tien,Lung-Chien Chen,Man Wong,Hoi-Sing Kwok
2022 10th International Symposium on Next-Generation Electronics (ISNE)pp.1-3, (2023)
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Long-Term Recovery Behavior in InSnZnO Thin-Film Transistors after Negative Bias Stress
Zhendong Jiang,Meng Zhang,Sunbin Deng,Man Wong,Hoi-Sing Kwok
2023 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)pp.1-5, (2023)
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Off-State Current Degradation Behavior of Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors under Dynamic Drain Voltage Stress
Meng Zhang, Yiming Song,Zhendong Jiang,Xindi Xu,Man Wong,Hoi-Sing Kwok
2023 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)pp.1-5, (2023)
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Improving the Electrical Performance of RF-Sputtered InSnZnO Thin-Film Transistors via Octadecylphosphonic Acid Self-Assembled Monolayer
Feilian Chen,Dongbu Yang,Zhendong Jiang,Guanming Zhu, Meng Zhang,Yunhao Wan,Zhiying Chen
2023 IEEE International Flexible Electronics Technology Conference (IFETC)pp.01-04, (2023)
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Degradation of InSnZnO Thin-Film Transistors under Negative Bias Stress
Zhendong Jiang,Meng Zhang, Sunbing Deng,Man Wong,Hoi-Sing Kwok
IEEE Transactions on Electron Devicesno. 12 (2023): 6381-6386
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