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Novel Strategies Toward High-Performance FeFET for Computing in Memory Application
Giuk Kim,Hyojun Choi,Sangho Lee,Hunbeom Shin, Lingwei Zhang,Sangmok Lee,Yunseok Nam, Woongjin Kim, Jihye Ock, Sujeong Lee, Hyunjun Kang,Sanghun Jeon
2024 INTERNATIONAL VLSI SYMPOSIUM ON TECHNOLOGY, SYSTEMS AND APPLICATIONS, VLSI TSA (2024)
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Charge Trap Flash with Superior Program Efficiency by Negative Capacitance-Boosting Effect
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