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TCAD simulation of Josephson Junctions and strained Silicon
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IEEE TRANSACTIONS ON APPLIED SUPERCONDUCTIVITYno. 5 (2023)
Coenrad J. Fourie,Kyle Jackman,Johannes Delport,Lieze Schindler,Tessa Hall,Pascal Febvre,Lucas Iwanikow,Olivia Chen,Christopher L. Ayala,Nobuyuki Yoshikawa,Mark Law,Thomas A. Weingartner,Yanzhi Wang,Peter Beerel,Sandeep Gupta,Haipeng Zha,Sasan Razmkhah,Mustafa Altay Karamuftuoglu,Arash Fayyazi,Mingye Li,Murali Annavaram,Shahin Nazarian,Massoud Pedram
IEEE transactions on components, packaging, and manufacturing technologyno. 8 (2021): 1310-1312
2021 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD)pp.242-246, (2021)
Journal of Applied Physicsno. 3 (2020): 33901-33901
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