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IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systemsno. 12 (2010): 1745-1752
K. Yamakawa, T. Ozaki, H. Kanaya,I. Kunishima,Y. Kumura,Y. Shimojo,S. Shuto,O. Hikada, Y. Yamada, S. Yamazaki,S. Shiratake,D. Takashima,T. Miyakawa,S. Ohtsuki, T. Hamamoto
H Kanaya,K Tomioka, T Matsushita,M Omura, T Ozaki,Y Kumura,Y Shimojo, T Morimoto,O Hidaka,S Shuto, H Koyama, Y Yamada, K Osari, N Tokoh, F Fujisaki,N Iwabuchi, N Yamaguchi, T Watanabe,M Yabuki, H Shinomiya, N Watanabe, E Itoh, T Tsuchiya,K Yamakawa,K Natori, S Yamazaki,K Nakazawa,D Takashima,S Shiratake,S Ohtsuki,Y Oowaki,I Kunishima,A Nitayama
FERROELECTRIC RANDOM ACCESS MEMORIES FUNDAMENTALS AND APPLICATIONS (2004): 197-213
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T. Ozaki,N. Nagel,Y. Kumura,J. Lian,A. Hilliger,T. Tsuchiya,R. Bruchhaus,H. Kanaya, H. Koyama, U. Wellhausen,O. Hidaka,S. Shuto, S. Gernhardt,Y. Shimojo,B. K. Moon,H. Itokawa,U. Egger,H. Zhuang,K. Tomioka, M. Fukushima,K. Yamakawa,D. Takashima,I. Kunishima,Y. Oowaki,G. Beitel
D Takashima, H Nakano
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