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Microscopic Modeling of MgO Barrier Degradation Due to Interface Oxygen Frenkel Defects in Scaled MTJ Toward High-Density STT-MRAM
Rina Takashima, Takeo Koike,Shogo Itai,Hideyuki Sugiyama, Young Min Lee,Masaru Toko, Soichiro Ono, Daisuke Watanabe,Soichi Oikawa,Katsuhiko Koi, Hiroyuki Kanaya,Masahiko Nakayama,Kohji Nakamura
2024 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM, IRPS 2024 (2024)
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Low-power Embedded Perpendicular STT-MRAM Design for Cache Memory
Hiroki Noguchi, Kazutaka Ikegami, K. Kushida,Keiko Abe,Shogo Itai,Satoshi Takaya, Chika Tanaka,C. Kamata, M. Amano,E. Kitagawa,Naoharu Shimomura,Atsushi Kawasumi, Hara Hiroyuki, Junichi Ito,Shinobu Fujita
IEICE Technical Report IEICE Tech Repno. 6 (2015): 45-50
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