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A Low Overhead High Test Compression Technique Using Pattern Clustering with $N$-Detection Test Support
Seongmoon Wang, Wenlong Wei,Zhanglei Wang
IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systemsno. 12 (2010): 1672-1685
引用13浏览0EIWOS引用
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Low-Power Test Pattern Generation
Xiaoqing Wen,Seongmoon Wang
POWER-AWARE TESTING AND TEST STRATEGIES FOR LOW POWER DEVICESpp.65-115, (2010)
引用0浏览0引用
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A Low Hardware Overhead Self-Diagnosis Technique Using Reed-Solomon Codes for Self-Repairing Chips
Xiangyu Tang,Seongmoon Wang
IEEE transactions on computers/IEEE transactions on computersno. 10 (2010): 1309-1319
引用27浏览0EIWOS引用
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