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In-operando Microwave Scattering-Parameter Calibrated Measurement of a Josephson Traveling Wave Parametric Amplifier
S. -h. Shin,M. Stanley, W. N. Wong, T. Sweetnam, A. Elarabi,T. Lindstrom,N. M. Ridler,S. E. de Graaf
APPLIED PHYSICS LETTERSno. 10 (2024)
引用0浏览0引用
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Broadband Coaxial S-Parameter Measurements for Cryogenic Quantum Technologies
Sang-Hee Shin,Manoj Stanley,James Skinner,Sebastian E. de Graaf,Nick M. Ridler
IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUESno. 4 (2024): 2193-2201
引用0浏览0EIWOS引用
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In-situ Scanning Gate Imaging of Individual Two-Level Material Defects in Live Superconducting Quantum Circuits
M. Hegedüs, R. Banerjee, A. Hutcheson, T. Barker,S. Mahashabde, A. V. Danilov,S. E. Kubatkin, V. Antonov,S. E. de Graaf
arxiv（2024）
引用0浏览0引用
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Scaling of Self-Stimulated Spin Echoes
S. E. de Graaf, A. Jayaraman,S. E. Kubatkin,A. V. Danilov,V. Ranjan
APPLIED PHYSICS LETTERSno. 2 (2024)
引用0浏览0引用
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