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Measurement Science and Technologyno. 5 (2024)
M Stock,P Conceição,H Fang,F Bielsa,A Kiss,L Nielsen,F Beaudoux,P Espel, M Thomas,D Ziane, H Baumann,A Eichenberger,K Marti,Y Bai, M Hu,Z Li,Y Lu, C Peng,J Wang,Y Wang, D Wu, P Abbott,D Haddad, Z Kubarych,E Mulhern,S Schlamminger,D Newell,K Fujita,H Inaba, K Kano,N Kuramoto, S Mizushima,S Okubo,Y Ota,L Zhang,S Davidson,R G Green,J O Liard, N F Murnaghan,B M Wood,M Borys, D Eppers, D Knopf, E Kuhn, M Hämpke,M Müller,A Nicolaus,F Scholz, M Spoors, H Ahmedov
Metrologiano. 1A (2023): 07003-07003
H. Bettin,Michael Borys,Martin Firlus,Christian Buchner,Zoltán Zelenka,Nieves Medina, Tijana Parlić-Risović, Mladen Bezjak, Chris Mitsas, A. Lefkopoulos,E Lenard, George Florian Popa,Andrea Malengo,Tanguy Madec,Florian Beaudoux,Peter Fuchs,K. Marti,Christian Wüthrich, H. Kajastie,Alaaeldin A. Eltawil,K. Fujii, Noriyuki Kuramoto,Atsushi Waseda,M Perkin,Stuart Davidson, Ümit Y Açadağ,Aleksey Domostroev
Ian A. Robinson,James Berry,Christopher Bull,Stuart Davidson, Sven du Clou,Charles Jarvis, Henk Potgieter, David Szwer,Jeannie Urquhart,Arthur Vie,Emily Webster,Perdi Williams
Computer Integrated Manufacturing (2019)
Metrologiano. 1A (2018): 07012-07012
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#Papers: 72
#Citation: 758
H-Index: 16
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