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Logic Diagnosis Based on Logic Built-In Self-Test Signatures Collected In-Field from Failing System-on-Chips
Paolo Bernardi, Gabriele Filipponi, Giusy Iaria, Claudia Bertani, Vincenzo Tancorre
Electronicsno. 21 (2024): 4234
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Built-In Self-Test Architecture Enabling Diagnosis for Massive Embedded Memory Banks in Large SoCs
Paolo Bernardi, Augusto Maria Guerriero,Giorgio Insinga, Giovanni Paganini, Giambattista Carnevale, Matteo Coppetta, Walter Mischo,Rudolf Ullmann
ELECTRONICS（2024）
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Exploring Trade-Offs in Multi-Site Wafer Testing
Paolo Bernardi, Lorenzo Cardone, Tommaso Foscale
Latin American Test Symposiumpp.1-4, (2024)
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A Novel Approach to Extract Embedded Memory Design Parameter Through Irradiation Test
P. Bernardi,G. Insinga, N. Kolahimahmoudi
2023 IFIP/IEEE 31ST INTERNATIONAL CONFERENCE ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION, VLSI-SOCpp.32-37, (2023)
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