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Prompt Shift of On-State Resistance in LDMOS Devices: Causes, Recovery, and Reliability Implications
Sven Prigann,Maximilian W. Feil,Hans Reisinger, Jochen Bissinger,Marc Strasser,Michael Waltl, Johannes Schlipf, Turgay Kaya, Lars Bartholomäus,Wolfgang Gustin,Thomas Basler
2024 36th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD)pp.394-397, (2024)
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A 65nm 4MB embedded flash macro for automotive achieving a read throughput of 5.7GB/s and a write throughput of 1.4MB/s
Mihail Jefremow,Thomas Kern,Ulrich Backhausen, J Elbs, B Rousseau,Christoph Roll, Leyla Jael Garcia Castro, T Roehr,Edvin Paparisto, K Herfurth, R Bartenschlager, Stefanie Thierold, R Renardy, Stephan Kassenetter,N Lawal,Marc Strasser, W Trottmann,Doris Schmittlandsiedel
ESSCIRC（2013）
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