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Interfacial Transport Mechanisms Characterized using Ultrahigh Temperature in situ TEM Nanomechanical Testing
Shen Dillon,Keith Coffman,Robson Grosso,Gowtham Jawaharram,Lin Feng,Yonghui Ma, Elina dos Santos Mucillo,Khalid Hattar,Christopher Barr,Ricardo Castro,Jia-hu Ouyang, R. Garcia,Fadi Abdeljawad
Proposed for presentation at the The 12th International Workshop on Materials Behavior at the Micro- and Nano-Scale----2019 WORKSHOP schedule held June 14-16, 2021 in Xi?an, China. (2021)
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(Invited) in Situ XPS and Aes Characterization of Cathode Surface Chemistry Evolution and Its Effect on Cycle Life
Shen J. Dillon,Lin Feng,Yonghui Ma
Meeting abstracts/Meeting abstracts (Electrochemical Society CD-ROM)no. 4 (2018): 177-177
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#Citation: 62

H-Index: 2

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Diversity: 1

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