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Impact of mechanical stress engineering on flicker noise characteristics
S. Maeda,You-Seung Jin,Jung-A Choi, Sun-Young Oh, Hyun-Woo Lee, Jae-Yoon Yoo,Min-Chul Sun,Ja-Hum Ku,Kwon Lee, Su-Gon Bae, Sung-Gun Kang,Jeong-Hwan Yang,Young-Wug Kim,Kwang-Pyuk Suh
Digest of Technical Papers. 2004 Symposium on VLSI Technology, 2004. (2004)
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