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SiC MOSFET Micro-Explosion Due to a Single Event Burnout: Analysis at the Device and Die Levels
Rosine Coq Germanicus,Tanguy Phulpin,Thomas Rogaume,Kimmo Niskanen,Sandrine Froissart,Olivier Latry,Alain Michez,Ulrike Lüders
International Symposium for Testing and Failure Analysis ISTFA 2023: Conference Proceedings from the 49th International Symposium for Testing and Failure Analysis (2023)
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CHIPIR Neutron Spallation RADSAGA CAMPAIGN
K. Niskanen, Israel C. Lopes,Andrea Coronetti
semanticscholar（2021）
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