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Toward a universal characterization methodology for conversion gain measurement of CMOS APS: application to Euclid and SVOM
Jean Le Graët,Aurélia Secroun, Marie Tourneur-Silvain,Éric Kajfasz,Jean-Luc Atteia,Olivier Boulade, Alix Nouvel de la Flèche,Hervé Geoffray,William Gillard, Stéphanie Escoffier, Francis Fortin, Nicolas Fourmanoit, Smaïn Kermiche,Hervé Valentin,Julien Zoubian
arxiv（2024）
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