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OPTICAL MEASUREMENT SYSTEMS FOR INDUSTRIAL INSPECTION X (2017)
mag(2014)
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Imaging and Applied Optics Technical Papers (2012)
K J Witte,V Bagnoud,A Blazevic,S Borneis,C Bruske,John A Caird, S Calderon,U Eisenbarth,S Gotte,T Hahn,H M Heuck,D H H Hoffmann,Dasa Javorkova, Frieda Knobloch,Th Kuhl, M Kugler,S Kunzer,Michael R Kreutz, B Legarrec,T Merzmantwill,E Onkels, S Radau, M Rebscher,D Reemts,R M Richard,M Roth, A Roussel,Anna Tauschwitz,R Thiel,U Thiemer,D Ursescu,Ulrich Wittrock,B Zielbauer,D Zimmer,Johannes Gutenberguniversitat Mainz
mag(2010)
引用23浏览0引用
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V. Bagnoud,B. Aurand,A. Blazevic,S. Borneis,C. Bruske,B. Ecker,U. Eisenbarth,J. Fils,A. Frank,E. Gaul,S. Goette,C. Haefner,T. Hahn,K. Harres,H.-M. Heuck,D. Hochhaus,D. H. H. Hoffmann,D. Javorková,H.-J. Kluge,T. Kuehl,S. Kunzer,M. Kreutz,T. Merz-Mantwill,P. Neumayer,E. Onkels,D. Reemts,O. Rosmej,M. Roth,T. Stoehlker,A. Tauschwitz,B. Zielbauer,D. Zimmer,K. Witte
Applied Physics Bno. 1 (2009): 137-150
K. Witte,V. Bagnoud,A. Blazevic,S. Borneis,C. Bruske,J. Caird, S. Calderon,U. Eisenbarth, J., Fils,S. Götte,T. Hahn,H.-M. Heuck,D. H. H. Hoffmann,D. Javorkova, G. Klappich, F. Knobloch,Th. Kühl, M. Kugler,S. Kunzer,M. Kreutz, B. LeGarrec,T. Merz-Mantwill,E. Onkels, S. Radau, M. Rebscher,D. Reemts, R. M. Richard,M. Roth, A. Roussel, Andreas Tauschwitz, - AnnaTausch, Witz,R. Thiel,U. Thiemer,D. Ursescu,U. Wittrock,B. Zielbauer,D. Zimmer
semanticscholar(2008)
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mag(2008)
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Munichpp.1E-ISBN:978, (2007)
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