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Overview and Future Challenges of Hafnium Oxide ReRAM
Y. S. Chen, H. Y. Lee, P. S. Chen,P. Y. Gu,Y. Y. Hsu,W. H. Liu,C. H. Tsai, S. M. Wang,S. S. Sheu,P. C. Chiang,W. P. Lin, W. S. Chen,F. T. Chen,C. H. Lien,M. J. Tsai
Extended Abstracts of the 2010 International Conference on Solid State Devices and Materials (2010)
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