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时间
引用量
主题
期刊级别
合作者
合作机构
2024 IEEE 25th Latin American Test Symposium (LATS)pp.1-6, (2024)
EIWOS
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IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systemspp.1-6, (2024)
EIWOS
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AMBIOno. 1 (2024): 34-45
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EVOLUTIONARY APPLICATIONSno. 11 (2023): 1830-1844
WOS
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HAL (Le Centre pour la Communication Scientifique Directe) (2023)
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