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Surface Chemical Analysis
David Sykes
SPRINGER HANDBOOK OF ELECTRONIC AND PHOTONIC MATERIALS, 2ND EDITIONpp.413-423, (2017)
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Secondary Ion Mass Spectrometry Round-Robin Study of Relative Sensitivity Factors in Gallium Arsenide
Y Homma, F Tohjou, A Masamoto,M Shibata,H Shichi,Y Yoshioka,T Adachi,T Akai, Y Gao, M Hirano,T Hirano,A Ihara,T Kamejima, H Koyama, M Maier, S Matsumoto, H Matsunaga, T Nakamura, T Obata, K Okuno,S Sadayama,K Sasa,K Sasakawa,Y Shimanuki, S Suzuki,DE Sykes, I Tachikawa, H Takase,T Tanigaki,M Tomita, H Tosho,S Kurosawa
Surface and interface analysis（1998）
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