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论文共 72 篇作者统计合作学者相似作者

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Low-noise Si/SiGe HBT for LEO satellite user terminals in Ku-Ka bands
A. Gauthier,E. Brezza,A. Montagne,N. Guitard,J. Azevedo Goncalves,M. Buczko,S. Jan,N. Derrier,D. Celi,C. Deglise-Favre, J. Ma,H. Audouin,F. Deprat,D. Ristoiu,L. Berthier,L. Clement, B. Grelaud, C. Rougier,P. Chevalier
2023 IEEE BiCMOS and Compound Semiconductor Integrated Circuits and Technology Symposium (BCICTS)pp.187-190, (2023)
引用0浏览0EIWOS引用
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In-Situ Calibration and De-Embedding Test Structure Design for SiGe HBT On-Wafer Characterization up to 500 GHz
M. Cabbia,M. Deng,S. Fregonese,M. De Matos,D. Céli,T. Zimmer
2020 94th ARFTG Microwave Measurement Symposium (ARFTG)pp.1-4, (2020)
引用5浏览0EIWOS引用
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Advances in Aging Compact Model for Hot Carrier Degradation in SiGe HBTs under Dynamic Operating Conditions for Reliability-Aware Circuit Design
Chhandak Mukherjee, Marc Fabert,Marine Couret, G. Fischer,Mathieu Jaoul,D. Céli,Klaus Aufinger, Thomas Zimmer, Cristell Maneux
HAL (Le Centre pour la Communication Scientifique Directe) (2019)
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High Current Impact Ionization Model
Mathieu Jaoul,Cristell Maneux,Thomas Zimmer,D. Céli,M. Schröter
HAL (Le Centre pour la Communication Scientifique Directe) (2018)
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Avalanche Compact Model Featuring SiGe HBTs Characteristics Up to BVcbo
Mathieu Jaoul,D. Céli, Cristell Maneux
European Solid-State Device Research Conferencepp.70-73, (2017)
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#Citation: 963

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