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Failure Analysis of an Anomalous Subthreshold Current in Nano-Scale Nand Flash Memory
Dong-Ho Lee,Scung-Woo Shin,Choon-Kun Ryu,Jae-Hoon Choi, Chae-Moon Lim,Noh-Yeal Kwak,Hyun-Soo Shon,Jaehyoung Koo,Kwon Hong,Byung-Seok Lee,Sung-Ki Park,Sung-Wook Park,Kae-Dal Kwack
2007 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM PROCEEDINGS - 45TH ANNUALpp.612-+, (2007)
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