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研究方向
过电压抑制与绝缘配合
纳米电介质绝缘老化机理及其性能测试与评估
电气设备状态检测与故障诊断
过电压抑制与绝缘配合
纳米电介质绝缘老化机理及其性能测试与评估
电气设备状态检测与故障诊断
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合作机构
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurementno. 99 (2024): 1-1
Transactions of China Electrotechnical Societyno. 8 (2023)
AIP ADVANCESno. 12 (2023)
2022 IEEE International Conference on High Voltage Engineering and Applications (ICHVE)pp.1-5, (2022)
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作者统计
#Papers: 323
#Citation: 1417
H-Index: 18
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合作机构
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