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Bismuth As a Buffer Layer for Metal Contact with Silicon Carbide Studied by in Situ Photoelectron Spectroscopy

Xiangrui Geng,Yishui Ding,Sisheng Duan,Wei Chen

SURFACE SCIENCE（2024）

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关键词
Bi,SiC,Semimetal,Contact buffer layer,In situ XPS/UPS
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