Investigating Ultra-thin Ag and Au Layers Using Spectrophotometry and AFM Imaging
JOURNAL OF THE EUROPEAN OPTICAL SOCIETY-RAPID PUBLICATIONS（2024）
关键词
Spectrophotometry,Refractive index determination,Characterisation,Metallic thin films,AFM
AI 理解论文
溯源树
样例
生成溯源树，研究论文发展脉络
Chat Paper
正在生成论文摘要