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TID Effects on Random Telegraph Signals in Bulk 90 Nm MOSFET Devices

Jereme Neuendank,Fahad Al Mamun,Hugh Barnaby,Stefano Bonaldo,Matthew Spear,Trace Wallace,Daniel Loveless, Jacob Pew, Mohamed Nour, Pete Manos, Zach Giorno, Usman Suriono, Mike Chambers, Steve Kosier

2023 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW)（2023）

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关键词
Total Ionizing Dose,TID,Random Telegraph Noise,RTN,Random Telegraph Signal,RTS
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