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Long-Term Microstructural Stability of Sn-40Bi and Sn-40Bi-10In Alloys

José E. Spinelli, Jaderson R. Leal,John A. Wu,Amey Luktuke,Eshan Ganju,Nikhilesh Chawla

JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS（2024）

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关键词
Sn-Bi-in alloy,image analysis,EDS,phase parameters,semisolid,eutectic
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