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Nanosecond Laser Damage of 532 Nm Thin Film Polarizers Evaluated by Different Testing Protocols

Xuyi Liu,Cao Feng,Weili Zhang, Humbet Nasibli,Yuan 'an Zhao,Xiaofeng Liu,Kun Shuai,Jianda Shao

Optical Materials（2024）

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关键词
532 nm polarizer,1-on-1,S-on-1,Raster scan,LIDT,Damage morphologies
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