谷歌浏览器插件

订阅小程序

在清言上使用

立即登录

学术主页个人账号

我的关注论文收藏浏览历史

Characterization of Trap Density in Indium-Gallium-Zinc-Oxide Thin Films by Admittance Measurements in Multi-Finger MOS Structures

Hongwei Tang,Attilio Belmonte,Dennis Lin,Valeri Afanas'ev,Patrick Verdonck,Adrian Chasin,Harold Dekkers,Romain Delhougne,Jan Van Houdt,Gouri Sankar Kar

Solid-State Electronics（2024）

引用 0|浏览7

暂无评分

AI 理解论文

溯源树

样例

生成溯源树，研究论文发展脉络

Chat Paper

正在生成论文摘要