XFEL: the European X-Ray Free-Electron Laser - Technical Design Report
R. Abela, K. Witte, A.S. Schwarz,H. Redlin,H. J. Eckoldt,M. v. Hartrott,K. Floettmann, Marta Fajardo, V. Katalev,T. Schilcher, K. Tiedtke,J. Baehr, W. Singer,E. Sombrowski, S. Casalbuoni,Jànos Hajdu, J.D. Schneider,G. Dipirro, J. W. Kim, Ralf Brinkmann,B. Racky, J. Chen, Albert Nienhaus,Henry N. Chapman, H. Lierl, E. Gadwinkel,Ch. Gerth, Ian K. Robinson,S. Choroba, M. Maslov,R. Wenndorff, C. Pagani, G.J. Tallents, H.-J. Grabosch, E. Jaeschke,Rocco Paparella, P. Seller, P. Piot, I. Tsakov, Daniel Kraemer, A. Winter, M. Sachwitz, A. Cianchi, Henning Weddig, W. Sandner, Christian G. Schroer,T. Núñez, P. Castro, O. Napoly,Qingyu Kong, S. Simrock, U. Gensch, H. Thom, S. Bratos, C. Altucci, B. R. Dobson,Claudio Masciovecchio, H. Quack,Reinhard Kienberger, M. Wendt,Majed Chergui, O. Grimm, Anton Plech,F. Obier, B. Schmidt,V. Sytchev,Joerg Rossbach,O. S. Kozlov,Marion Kuhlmann,F. Senf, Alexander Wolf, Julia K. Vogel, J. Prenting, F. Stephan,Evgeny Syresin,Daniele Sertore,Winfried Decking, N. Baboi,Elmar Vogel, L. Juha, Alexander Brandt,Éric Collet, Yu. F. Filipov,Ivan A. Vartanyants, J. P. Marangos, N. Golubeva, R. V. Smith, Simone Techert,Alexander Fateev,Michaël Wulff, L. Haenisch,M. Huening, V. Honkimäki, R. Treusch,Hyotcherl Ihee, S. Prat,B. Petrosyan,Eduard Prat, Metin Tolan,K. Honkavaara,V. Tsakanov, D. Ramert, F. Ömer İlday, H. Schulte-Schrepping, Wolf-Dietrich Moeller, R. Schuch,A. Shabunov, D. Sellmann, J. S. Wark, Jens Schäfer,F. Stulle, P. Nicolosi, M. Castellano, D. Trines, B. Fominykh, M. Ross, Y. Kim, Douglas McCormick,Th. Tschentscher, F. Toral, K. P. Sytchev, D. Reschke, Philip Anfinrud, I. Will, S. Toleikis, H. Schlarb, H. Brück,Laura Monaco, Elke Ploenjes, Steven L. Johnson, Peter Schmueser, Arthur Aghababyan, B. Krause, Jang-Hui Han, N. Tesch, K. Klose, J. Feldhaus, M. Nagl, M. Staack, R. Ischebeck,Vitali Kocharyan,Rodolphe Vuilleumier, M. French, K. Wittenburg, G. Grübel, S. Riemann,L. Froehlich, P. Wochner, M. Dehler, L. García‐Tabarés, M. Seidel, Serdar Çelik,L. Lilje, C. David, H. Edwards, Faris Gel’mukhanov,Luca Poletto,Christoph Bostedt, H. Wabnitz, C. Bressler, H. Delsim-Hashemi, H. Kapitza,D. Kostin,I. Bohnet, Ralph Lange, D. Richter,A. Matheisen, W. Kook,P. Zambolin, B. Griogoryan, U. Hahn,T. Wohlenberg,V. Miltchev, Michael Schmitz,L. Petrosyan, S. Schreiber, Jan Havlíček, J. Roensch,Evgeni Saldin, J, O. Matzen, S. Schrader, L. Catàni,R. Kammering,M. Jabłonka, D. Lipka, F. Ullrich, C. Blome, B. Petersen, M. Goerler, M. Krasilnikov, F. Loehl, J. Jensen, D. Proch, H. Laich,V. Balandin, M. Tischer, D. Charalambidis, T. Garvey, M. Luong,V. Rybnikov, M. Minty, Harald Sinn, Andrea Cavalleri, A. Variola, Thomas Möller, Thomas Weiland,Gisela Pöplau, Julian Becker, M.V. Yurkov, Philippe Zeitoun,R. Bandelmann, J. Pflueger,Rainer Wanzenberg, Mårten Larsson, Bernd Steffen,A. M. Lindenberg, D. Riley, K. Rehlich,H. Remde, P. Michelato, K. Hacker, J. Krzywiński,D. Pugachov, R. W. Lee, W. Graeff, E.A. Schneidmiller,D. Noelle, Andy Bolzmann, B. Faatz, J.-P. Carneiro,M. Kollewe,N. Meyners, Christian Gutt, H. Weise, S. Duesterer, Alexander Yu. Petrov, F. Kaerntner, M. Altarelli, Holger May,Oleg Brovko, V. Schlott, V. Ayvazyan, Georg Neubauer, J. Frisch, G. Kube, Ursula van Rienen,Igor Zagorodnov, A. A. Sorokin, M. Clausen,Y. Bozhko, B. M. Stephenson, H. Graafsma, A. Maquet, A N Zolotov,M. Schloesser, J. Sekutowicz, E. Matyushevskiy, M. Koerfer,Malcolm R. Howells, M. Dohlus, Ian McNulty, A. Oppelt, F. B. Rosmej,S. Khodyachykh, R. Wichmann,G. Amatuni,Jacek Wojtkiewicz, P. van der Meulen, A. Eckhardt, T. Limberg,N. Mildner, Olaf Krebs, R. Reininger, Wolfgang Köehler,O. Hensler,Lazar Staykov, Friedrich Schotte, Kay Jensch, Volker Ziemann,Emma Springate, Boris Keil, P. Audebert, H. B. Pedersen, H. Danared, Christian Magné,A. Leuschner,Bolko Beutner, R. Follath,K. Zapfe,T. Hott, Kai Ludwig, M. Richter
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