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Locating High Power Consuming Area in Logic parts Caused by Memory Size and Shapes

Daiki Takafuji, Ryu Hoshino,Kohei Miyase,Xiaoqing Wen,Seiji Kajihara

IEICE Technical Report; IEICE Tech. Rep.（2021）

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关键词
high power consuming area,memory size,logic parts
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溯源树
样例
生成溯源树，研究论文发展脉络
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