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Inelastic mean-free path and mean escape depth of 10-140 eV electrons in SiO2 nanoparticles determined by Si 2p photoelectron yields

E. Antonsson, F. Gerke,B. Langer, C. Goroncy, T. Dresch,T. Leisner,C. Graf,E. Ruehl

PHYSICAL CHEMISTRY CHEMICAL PHYSICS（2023）

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关键词
sio2 2p photoelectron yields,electrons,nanoparticles,mean-free escape depth
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