基于SVM的精密轴系成功子样数据包络分析
IM(Intelligent Manufacturing)（2022）
摘要
成功子样数据包络分析基于数据理论分析和统计过程控制理论,通过分析有限子样的数据表征,对产品能否满足任务要求进行判断.本文针对精密轴系小样本、多特性、潜在信息难以挖掘的问题,提出了一种基于支持向量机(Support Vector Machine,SVM)的精密轴系成功子样数据包络分析方法,利用先前成功子样信息,将新研样本与成功子样的核距离进行对比,判断新研样本数据是否在成功子样包络范围内,对新研产品潜在问题进行挖掘,进一步提高整机服役寿命和运转可靠性,并通过试验验证了该方法的有效性.
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