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Study on the high-temperature triggering and holding characteristics of PDSOI SCR devices

J. X. Wang,F. Z. Zhao,T. Ni,D. L. Li,L. C. Gao, J. J. Wang,X. J. Li,C. B. Zeng,J. J. Luo,Z. S. Han

Microelectronics Reliability（2021）

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关键词

ESD,PDSOI,SCR,Temperature,TLP,TCAD

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