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(Invited) Technology Options to Reduce Contact Resistance in Nanoscale III-V MOSFETs

Rinus T.P. Lee,Wei Yip Loh,Robert Tieckelmann,Tommaso Orzali,Craig Huffman,Alexey Vert,Gensheng Huang, Maxim Kelman,Zia Karim,Chris Hobbs,Richard J.W. Hill, S.S. Papa Rao

Meeting abstracts/Meeting abstracts (Electrochemical Society CD-ROM)（2015）

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关键词
Metal-Semiconductor Contacts
AI 理解论文
溯源树
样例
生成溯源树，研究论文发展脉络
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