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RT XFEL structure of Photosystem II 500 ms after the third illumination at 4.6 A resolution

J. Kern,R. Tran,R. Alonso-Mori,S. Koroidov,N. Echols,J. Hattne,M. Ibrahim,S. Gul,H. Laksmono,R.G. Sierra,R.J. Gildea,G. Han,J. Hellmich,B. Lassalle-Kaiser,R. Chatterjee,A. Brewster,C.A. Stan,C. Gloeckner,A. Lampe,D. DiFiore,D. Milathianaki,A.R. Fry,M.M. Seibert,J.E. Koglin,E. Gallo,J. Uhlig,D. Sokaras,T.-C. Weng,P.H. Zwart,D.E. Skinner,M.J. Bogan,M. Messerschmidt,P. Glatzel,G.J. Williams,S. Boutet,P.D. Adams,A. Zouni,J. Messinger,N.K. Sauter,U. Bergmann,J. Yano,V.K. Yachandra

user-6073b1344c775e0497f43bf9（2014）

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关键词
Resolution (electron density),Photosystem II,Optics,Materials science
AI 理解论文
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样例
生成溯源树，研究论文发展脉络
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